文╱勀杰科技团队
随着电子束技术向更高解析、更小尺寸迈进,设备对安装环境的磁场稳定性提出了前所未有的要求。无论是在科学研究、半导体制程,或是高端量测应用中,磁场干扰尤其是磁场梯度(Magnetic Field Gradient)已成为影响仪器性能的限制因素。
SPICER CONSULTING SC24 主动双消磁系统正是针对这些环境挑战所设计,提供一套可实时补偿、精准稳定的主动磁场控制解决方案,有效取代或补强被动磁屏蔽,并大幅提升仪器效能与可靠性。
磁场梯度对电子束仪器的影响
磁场梯度会导致电子束在空间中发生非均匀偏转,进而造成:
成像漂移、失焦与畸变
曝光成像偏差与误差
离子/电子束定位不准确,影响制程与分析精度
这些问题对以下设备尤其严重:
透射电子显微镜(TEM)
场发射扫描电子显微镜/聚焦离子束显微镜(SEM/FIB)
电子束光刻/曝光系统(EBL)
SC24双套主动消磁系统的解决方案
SC24采用双轴补偿线圈与多点磁场感测架构,透过高频率(DC-5000Hz)实时监测与补偿,可针对非均匀磁场与梯度进行动态校正。其特点包括:
双回路补偿架构:可在多轴方向补偿磁场与其梯度,达到全空间主动抑制效果。
空间磁场梯度感测技术:可准确捕捉场地中磁场差异,提供区域性精准补偿。
数字控制与回授系统:持续监控并实时调整输出,确保磁场稳定。
主动消磁 vs 被动屏蔽:专业比较
项目 | 主动双消磁系统 | 被动屏蔽 |
对时变磁场干扰的反应能力 | 针对空间磁场实时进行补偿 | 无主动补偿功能 |
系统弹性与可扩充性 | 可针对不同仪器、空间进行客制化设计 | 固定结构,需结构性施工,不易变更 |
安装施工与空间要求 | 安装简便,无需建筑改造 | 安装复杂,需厚墙体与特殊建材 |
成本效益 | 一次性投资,降低场地施工成本,可随仪器移转重用 | 材料与施工成本高迁移困难 |
长期维护与管理 | 可透过软件进行远程监控与调校 | 无法调整 |
与高灵敏电子束仪器的兼容性 | 特别针对 TEM、SEM、FIB、EBL 等设计,适用于极高解析应用 | 仅能作为基础隔离 |
结语:磁场梯度,不再是场地限制
Spicer Consulting SC24 主动双消磁系统,已成为当今最具技术领先性且经济效益高的磁场补偿解决方案。无论您面临的是地铁直流磁场干扰,或是机房电气、设备产生的交流磁场污染,SC24 都能提供动态、可控且高精度的磁场稳定性,确保电子束设备在最严苛环境中仍能运行无虞。
如果您对主动双消磁系统服务有任何疑问,请立即与我们联系!
