应用专栏
SC24 Plus，主动式消磁系统的新典范
在追求极致精确度的科学研究与工业生产领域，诸如电子显微镜等高端设备对环境磁场的要求极为严苛。任何微小的磁场干扰均可能对实验结果或产品质量产生重大影响。在这种背景下，主动式消磁系统应运而生。SC24 Plus主动式消磁系统凭借其卓越的性能和全面的功能，已成为众多用户之首选。
SC24磁场消除系统：电子显微镜的精准守护者
在科研领域，对微观世界的深入探索是科研工作者持续追求的目标。电子显微镜作为关键的实验工具，其成像的高分辨率和稳定性对于科研成果的取得具有重要作用。然而，外部磁场的干扰经常成为影响电子显微镜性能的主要障碍。
勀杰科技2X SC24电镜屏蔽系统，为研究观测打造高性能保障
在透射电子显微镜等高精密研究观测领域，高梯度的磁场干扰一直是影响观测结果准确性和稳定性的关键因素。为了应对这一挑战，2X SC24电镜屏蔽系统应运而生。它以其卓越的性能、先进的技术和全面的保障措施，为电子显微镜观测提供了坚实的后盾。
勀杰科技SC11磁场分析仪：提升实验研究与工业生产的测量精度
随着科技的日渐发展，实验研究对于数据准确性的重视程度在不断攀升，任何一点数据的偏差都会导致结果“差之千里”。比如在使用电子显微镜的时候，很容易受到各种磁场的影响，甚至地球本身的磁场也会干扰结果，导致实验失败。
透射电镜样品杆：微观世界的探索利器
在科技日新月异的今天，人类对微观世界的探索从未停歇。透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）作为现代材料科学研究的重要工具，以其高分辨率和强大的分析能力，成为实验研究必不可少的重要工具。而透射电镜样品杆，作为这一精密仪器中的关键组件，更是扮演着举足轻重的角色。
Herzan电镜隔音箱打造科研实验室的静音空间
在科研和工业领域，对于实验室内排除各种因素的干扰一直是重中之重，数据的精度和稳定性至关重要。然而，相当多精密仪器设备极其容易受到外界噪声的干扰，从而影响最后的数据和成果。
Spicer主动消磁设备，高端电子显微镜磁场干扰的完美解决方案
随着电子显微镜和高精度设备在科研与工业中的广泛应用，电磁干扰对实验数据准确性的影响日益显现。尤其是在电子显微镜成像中，外界环境的电磁场波动可能导致图像模糊、变形甚至出现误差，直接影响科研工作的质量和效率。
主动式消磁系统，为电子显微镜提供稳定的成像体验
在高端电子显微镜的应用中，磁场干扰一直是影响成像质量和设备性能的核心难题。尤其是在磁场强度高或环境磁场梯度大的实验室中，磁场波动会直接导致成像失真，甚至对设备运行产生严重影响。
磁场干扰EMI：瞭解并减轻交流和直流磁场
直流(DC)和交流(AC)磁场会产生磁场干扰，从而降低电子显微镜和电子束微影设备的性能，可以同时处理直流和交流的主动消磁系统是最简单且具成本效益的解决方案。本篇将将说明什么是直流磁场和交流磁场，以及磁场干扰如何影响各实验室的设备。
磁场测试、震动测量、噪声检测等仪器如何选？科技大厂选择Spicer智能检测仪的原因
智能检测仪SC11、SC28挟带其优势已成为国内外科技大厂所使用，用于测量包含CD-SEM、EBL或其它半导体设备的环境参数以确保符合规定。多功能整合的智能软体满足：磁场强度测试、震动三轴测量、声音分贝检测，当下即可看测量的参数变化。
磁场屏蔽技术推进半导体微型元件研发制程
磁场屏蔽技术对于半导体制程颇具重要性。半导体产业不断投入微型元件的研发，其工厂通常采用吊顶式单轨系统，以在站点之间运输组件以进行自动装载和加工，这些高架系统通常会产生9 kHz的磁场，这对成像品质产生极大负面影响，必须将其消除以提高解析度，恢复电子显微镜原有的效能。
主动式双消磁系统：解决铁电材料研究中的磁场干扰问题
在Spectra 300 TEM上安装了2X SC24主动双消磁系统后，外部干扰已经明显改善。透过四颗磁场探头所取得的资料，可见在高度3公尺至0.5公尺范围内不论是X、Y、 Z方向其数值皆低于20nT。故Spectra 300 TEM可不受磁场干扰影响，而能以最高倍率运作、取得高品质影像。
电子显微镜的安装规划 – 如何减少或消除干扰
为了不断提高电子显微镜解析度和成像品质，制造商的环境规范变得越来越严格，配备光谱仪的高阶显微镜只能承受高达10 或20 奈米特斯拉的干扰；在无法迁移其他设备并重新安置所有设施的情况下，可以采取不同措施来应对震动和磁场的严重性并抵消其影响。
电镜环境量测系统如何选择？场地分析SC11、长期监测SC28
在许多情况下，我们必须对环境做量测或监控，以确保环境在符合标准的磁场、震动、声波等范围内。例如：在安装电子显微镜、电子束微影系统、CD-SEM 和聚焦离子束显微镜等仪器之前的环境评估、找出实验室设备运作问题的原因、长期维持敏感设备稳定度等等。
电子显微镜环境干扰因素的探讨与解决方案
SEM、TEM电子显微镜是现今微米、奈米科技研发与检验的重要工具，用来观测微结构的表面形貌和物质的元素组成，然而环境周围的电磁干扰、震动、噪音也会对电子显微镜的性能造成影响，如何有效量测并分析环境具有哪些干扰因子并将干扰程度数据化，以帮助研究员选择对应的解决方案，成为了现代科学中一门重要的课题…
如何提高电子束微影的良率：掌握消磁器选择的关键
2023年半导体虽然面临后疫情时代的市场挑战，先进制程微缩仍是半导体制造业的发展趋势，其中电子束微影（Electron Beam Lithography，简称EBL）更是具潜力发展的技术之一，其应用范围包含：微小电子元件、生物芯片、光学元件、量子器件、奈米结构材料、微型机械结构等领域。因此，如何在复杂技术中提高良率以降低成本，解决电磁干扰等环境问题至关重要。